基于ASTM方法的光学平面面形检测

李晋惠; 王飞; 范博洋

doi:doi:10.3969/j.issn.1005-5630.2015.01.002

光学仪器, 2015, 37 (1): 4, 网络出版: 2015-03-23

基于ASTM方法的光学平面面形检测

Measurement on optical plane surface based on ASTM method

李晋惠 ^1,*王飞 ^1,2范博洋 ³

作者单位

¹ 西安工业大学理学院, 陕西西安 710021

² 西安工业大学北方信息工程学院, 陕西西安 710025

³ 西北工业大学自动化学院, 陕西西安 710072

补充材料

李晋惠, 王飞, 范博洋. 基于ASTM方法的光学平面面形检测[J]. 光学仪器, 2015, 37(1): 4. LI Jinhui, WANG Fei, FAN Boyang. Measurement on optical plane surface based on ASTM method[J]. Optical Instruments, 2015, 37(1): 4.

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