光谱学与光谱分析, 2011, 31 (3): 696, 网络出版: 2011-08-16  

AlN纳米线高压相变的Raman光谱特征

Raman Characterization of High-Pressure Phase Transition in AlN Nanowires
作者单位
1 沈阳理工大学理学院, 辽宁 沈阳110159
2 吉林大学超硬材料国家重点实验室, 吉林 长春130012
基本信息
DOI: --
中图分类号: O521.2
栏目:
项目基金: 国家自然科学基金项目(11004138, 50772043), 辽宁省科技厅博士启动基金项目(20090908)和超硬材料国家重点实验室开放课题项目(200903)资助
收稿日期: 2010-05-10
修改稿日期: 2010-08-20
网络出版日期: 2011-08-16
通讯作者: 沈龙海 (shenlonghai@163.com)
备注: --

沈龙海, 李倩, 吴丽君, 马艳梅, 崔启良. AlN纳米线高压相变的Raman光谱特征[J]. 光谱学与光谱分析, 2011, 31(3): 696. SHEN Long-hai, LI Qian, WU Li-jun, MA Yan-mei, CUI Qi-liang. Raman Characterization of High-Pressure Phase Transition in AlN Nanowires[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2011, 31(3): 696.

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