光学与光电技术, 2011, 9 (3): 28, 网络出版: 2011-07-18
线扫描缺陷检测系统中的LED光源设计
Design of LED Illuminators Used in Line Scan Defect Inspection System
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TH74 |
栏目: | 光学设计 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2010-12-20 |
修改稿日期: | 2011-02-25 |
网络出版日期: | 2011-07-18 |
通讯作者: | 徐岩 (xuyan_smile@126.com) |
备注: | -- |
徐岩, 史燕琼. 线扫描缺陷检测系统中的LED光源设计[J]. 光学与光电技术, 2011, 9(3): 28. XU Yan, SHI Yan-qiong. Design of LED Illuminators Used in Line Scan Defect Inspection System[J]. OPTICS & OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, 2011, 9(3): 28.