光学 精密工程, 2016, 24 (1): 1, 网络出版: 2016-03-22   

微缩投影系统的垂轴放大率测量

Measurement of transversal magnification for reduced projection system
作者单位
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室, 吉林 长春 130033
基本信息
DOI: 10.3788/ope.20162401.0001
中图分类号: TH703;TH741.5
栏目: 现代应用光学
项目基金: 国家科技重大专项基金资助项目(No.2008ZX02501-008)
收稿日期: 2015-08-11
修改稿日期: 2015-09-10
网络出版日期: 2016-03-22
通讯作者:
备注: --

谢耀, 王丽萍, 郭本银, 王君, 苗亮, 王辉, 周烽. 微缩投影系统的垂轴放大率测量[J]. 光学 精密工程, 2016, 24(1): 1. XIE Yao, WANG Li-ping, GUO Ben-yin, WANG Jun, MIAO Liang, WANG Hui, ZHOU Feng. Measurement of transversal magnification for reduced projection system[J]. Optics and Precision Engineering, 2016, 24(1): 1.

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