光学技术, 2006, 32 (2): 0193, 网络出版: 2010-06-03
Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算
The calculation of stimulated-emission cross-section and the testing of fluorescence lifetime of Nd∶GGG crystal
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | O7;O561.3 |
栏目: | 激光技术与激光器 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2005-03-21 |
修改稿日期: | 2005-04-04 |
网络出版日期: | 2010-06-03 |
通讯作者: | 孙晶 (sj-cust@126.com) |
备注: | -- |
李昌立, 孙晶, 曾繁明, 李建利, 万玉春, 刘景和. Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算[J]. 光学技术, 2006, 32(2): 0193. LI Chang-li, SUN Jing, ZENG Fan-ming, LI Jian-li, WAN Yu-chun, LIU Jing-he. The calculation of stimulated-emission cross-section and the testing of fluorescence lifetime of Nd∶GGG crystal[J]. Optical Technique, 2006, 32(2): 0193.