激光与光电子学进展, 1978, 15 (7): 27, 网络出版: 2013-08-13  

用光学平板检验激光束的扩展

作者单位
摘要
近似的平面波前的曲率可由剪切干涉仪测定,使波前的振幅的一部分和已被横向位移或剪切的另一部分发生干涉。当采用空间相干性和时间相干性极高的激光时,剪切干涉仪可以只包含一块光学平板,与照射波前保持一定角度,使从前表面和背面来的反射发生干涉,情况如图1所示。检验激光束扩展器的调节和质量,光学平板是一种极为简单的工具。这项技术有相当大的实用价值,因此有必要在这里描述一下简单的原理及应用。
Abstract

徐德衍. 用光学平板检验激光束的扩展[J]. 激光与光电子学进展, 1978, 15(7): 27. 徐德衍. [J]. Laser & Optoelectronics Progress, 1978, 15(7): 27.

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!