二维S变换在光学三维面形测量中的应用 下载: 516次
宋梦洒, 陈文静. 二维S变换在光学三维面形测量中的应用[J]. 激光与光电子学进展, 2017, 54(4): 041206.
Song Mengsa, Chen Wenjing. Application of Two-Dimensional S-Transform in Optical 3D Shape Measurement[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2017, 54(4): 041206.
[1] 苏显渝, 李继陶. 信息光学[M]. 北京: 科学出版社, 1999: 306-338.
Su Xianyu, Li Jitao. Information optics[M]. Beijing: Science Press, 1999: 306-338.
[2] 苏显渝, 张启灿, 陈文静. 结构光三维成像技术[J]. 中国激光, 2014, 41(2): 0209001.
[3] 金国藩, 李景镇. 激光测量学[M]. 北京: 科学出版社, 1998: 337.
Jin Guofan, Li Jingzhen. Lasermetrology[M]. Beijing: Science Press, 1998: 337.
[4] Takeda M, Mutoh K. Fourier transform profilometry for the automatic measurement of 3-D object shapes[J]. Applied Optics, 1983, 22(24): 3977-3982.
[5] Kemao Q. Windowed Fourier transform for fringe pattern analysis[J]. Applied Optics, 2004, 43(13): 2695-2702.
[6] Kemao Q, Wang H, Gao W J. Windowed Fourier transform for fringe pattern analysis: theoretical analyses[J]. Applied Optics, 2008, 47(29): 5408-5419.
[7] 翁嘉文, 钟金钢. 伸缩窗口傅里叶变换在三维形貌测量中的应用[J]. 光学学报, 2004, 24(6): 725-729.
Weng Jiawen, Zhong Jin′gang. Application of dilating Gabor transform to three-dimensional shape analysis[J]. Acta Optica Sinica, 2004, 24(6): 725-729.
[8] 翁嘉文, 钟金钢. 小波变换在载频条纹相位分析法中的应用研究[J]. 光学学报, 2005, 25(4): 454-459.
[9] 徐东瀛, 李思坤, 王向朝, 等. 基于评价函数的二维小波变换轮廓术小波脊提取方法[J]. 光学学报, 2016, 36(4): 0412006.
[10] Stockwell R G, Mansinha L, Lowe R P. Localization of the complex spectrum: the S transform[J]. IEEE Transactions on Signal Processing, 1996, 44(4): 998-1001.
[11] 钟 敏, 陈文静, 蒋模华. S变换轮廓术中消除条纹非线性影响的方法[J]. 光学学报, 2011, 31(11): 1112003.
[12] Srinivasan V, Liu H C, Halioua M. Automated phase-measuring profilometry of 3-D diffuse objects[J]. Applied Optics, 1984, 23(18): 3105-3108.
[13] 王 焘, 陈文静, 钟 敏, 等. 基于光结构投影的二维S变换轮廓术[J]. 光学学报, 2012, 32(12): 1207002.
[14] 谌秋菊, 陈文静, 钟 敏, 等. 提高S变换轮廓术测量精度的方法[J]. 光学学报, 2013, 33(6): 0612009.
宋梦洒, 陈文静. 二维S变换在光学三维面形测量中的应用[J]. 激光与光电子学进展, 2017, 54(4): 041206. Song Mengsa, Chen Wenjing. Application of Two-Dimensional S-Transform in Optical 3D Shape Measurement[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2017, 54(4): 041206.