上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海市现代光学系统重点实验室 教育部光学仪器与系统工程研究院, 上海 200093
针对目前光纤温度传感器稳定性及抗干扰性差的问题，研究设计了一种新型光纤温度传感器探头。光纤温度传感薄膜探头是以锗为传感薄膜材料，探头结构采用了双层膜层叠结构，其中低折射率材料是二氧化硅，高折射率材料为锗。其探测原理是根据锗的折射率随温度变化而改变，从而导致了反射率的变化，在实际应用中，通过测量反射功率值达到测温的目的。光纤温度传感薄膜探头具有良好的线性特性，通过实验验证可以得到在测温范围为30 ℃～130 ℃时，其线性为99.85%。结果表明，得出的结论能够满足光纤温度传感器的线性化的目的。
薄膜 线性 光纤 双层膜 温度 中国激光
2011, 38(s1): s107004
