1 北京信息科技大学应用数学研究所， 北京 100101
2 北京大学数学科学学院， 北京 100871
通过分析特征点密度与物点聚焦程度的关系，建立基于特征点密度的聚焦测度。将融合特征点密度与边缘信息建立新的聚焦测度，利用聚焦堆栈数据实现场景深度的估计与全聚焦成像。对于由边缘信息建立的聚焦测度在图像纹理区域存在不准确性，该方法可以有效地弥补这一缺点。将刻画边缘信息的Sum-Modified-Laplacian(SML)方法与特征点密度函数相融合建立新的聚焦测度，用于三维场景重构，实现了场景深度估计和全聚焦成像算法。实验结果表明，新方法有效地剔除了SML在纹理区域估计错误的深度值，保留了SML在边缘区域的优势，得到了高精度的场景深度图及其全聚焦图像。
成像系统 深度估计 全聚焦成像 特征点密度 聚焦测度 聚焦堆栈 激光与光电子学进展
2017, 54(7): 071101
