作者单位
摘要
北京交通大学计算机与信息计算学院, 北京 100044
高精度解码是DeBruijn彩色结构光三维测量技术的关键问题。针对光照和物体表面纹理等因素导致解码精度不高的问题,提出一种基于色彩迁移技术的DeBruijn彩色结构光解码算法。首先,以结构光编码图像的颜色分布为先验知识,利用色彩迁移的方式对相机捕获的结构光投影图像进行增强和去光照处理,还原结构光投影图像条纹的颜色信息;然后,基于提出的两步精确定位的彩色结构光投影图像条纹中心点亚像素提取算法,准确提取条纹的中心坐标;最后,基于动态规划算法完成特征点匹配。实验结果表明,在光照和被测物体表面纹理导致结构光投影图像质量下降的情况下,提出的解码算法依然能够有效提高解码精度,具有较强的稳健性。
图像处理 色彩迁移 结构光解码 条纹中心点提取 DeBruijn序列 
激光与光电子学进展
2018, 55(1): 011013

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