作者单位
摘要
1 南京理工大学理学院信息物理与工程系, 江苏 南京 210094
2 中国电子科技集团南京五十五研究所, 江苏 南京 210016
利用X射线检测制导光纤在缠绕过程中产生的各种缺陷。通过对传统X射线仪拍摄图像的分析以及对点X射线扫描检测的模拟, 从理论上分析了X射线扫描检测光纤缠绕缺陷的可行性, 并进一步提出通过二维扫描对缺陷进行定位, 同时考虑了适当的匝间间隙对检测结果的影响, 并最终给出了相关的部分实验结果, 对实验中出现的相关问题进行了分析研究。
X射线光学 制导光纤 缠绕缺陷 扫描 匝间间隙 
中国激光
2010, 37(S1): 98

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