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 荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷

李洪路 刘红婕 蒋晓东 黄进 曹林洪

[摘要]提出荧光成像技术用于无损探测熔石英光学元件亚表面缺陷, 利用该方法获得不同加工工艺下熔石英光学元件的亚表面缺陷。结合熔石英光学元件损伤性能研究, 分析了熔石英光学元件亚表面缺陷与其损伤性能的关联关系。结果...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2019, 56(01):011004

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