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 复杂背景下目标三维重构的图像预处理方法

方雅媚 王红军 黄矿裕 周伟亮 刘磊 邹湘军

[摘要]针对目标三维重构图像处理算法要求背景单一、对实验环境依赖性较大的弊端,提出了一种复杂背景下目标三维重构的图像预处理算法。通过对所采集的图像进行高斯滤波、伽马变换以及直方图均衡化处理,去除图像噪点,对复杂背...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2019, 56(13):131008

 超光滑表面缺陷的分类检测研究

解格飒 王红军 王大森 田爱玲 刘丙才 朱学亮 刘卫国

[摘要]为了区分超光滑表面上方存在的微小粒子、亚表面缺陷、微粗糙度三种缺陷产生的散射光, 并得到能够探测这三种缺陷的最佳区域, 将双向反射分布函数(Bidirectional Reflection Distribution Function, BRDF)与琼斯矩阵结...

 PDF全文红外与激光工程 | 2019, 48(11):1113003

 基于稀疏矩阵的光学元件表面疵病检测

陈晨 王红军 王大森 田爱玲 刘丙才 朱学亮 刘卫国

[摘要]提出了一种基于稀疏矩阵的表面疵病快速拼接方法。该方法采用环形白光光源均匀地照射到被测元件表面, 光经显微散射暗场成像系统后形成暗背景下的亮疵病图像。通过对光学元件的x, y方向进行扫描, 得到子孔径拼接图像。...

 PDF全文中国激光 | 2019, 46(04):0404007

 毛玻璃转速对干涉条纹成像质量的影响

张佳莹 王红军 朱学亮 刘丙才 田爱玲

[摘要]针对大平面菲索干涉图像的相干噪声问题,采用旋转毛玻璃片的方法改变光束的相干性,来降低干涉系统的噪声。通过对毛玻璃的转速与条纹对比度和系统信噪比之间的关系进行仿真,获得最佳干涉条纹状态所需要的毛玻璃控制...

 PDF全文光电工程 | 2018, 45(01):170492

 单幅干涉条纹图的高精度波面重建技术

田爱玲 刘 婷 刘 剑 刘丙才 王红军

[摘要]结合莫尔条纹、傅里叶变换和数字相移技术实现了对单幅干涉条纹图的高精度相位计算和波面重建。首先,用计算机生成与被处理干涉条纹频率相近的数字相移条纹图,与实际干涉条纹图叠加得到相移莫尔条纹图;然后,利用傅...

 PDF全文红外与激光工程 | 2015, 44(04):1203

 二维横向剪切干涉中采样点的选取

王红军 张聪 田爱玲 刘丙才

[摘要]为了使相移式横向剪切干涉法能够广泛应用于大口径非球面的在线检测, 通过计算机仿真研究横向剪切干涉测量的非球面面形, 实现其二维波面的重建.分别对仿真中获得的被测非球面在x方向和y方向的两个差分波前中剪切量大小...

 PDF全文光子学报 | 2015, 44(03):0312002

 一种变频相移干涉测量的相位提取算法

刘剑 田爱玲 刘丙才 王红军

[摘要]相位提取的精度直接影响相移干涉测量的精度。在变频相移干涉测量中,相移量由干涉腔长和波长变化量决定,必须对测试系统进行相位标定,但常因相位标定不精确而引入相移误差,影响相位提取的精度。运用一种基于迭代的...

 PDF全文光学学报 | 2014, 34(03):0312001

 聚焦光在亚表面损伤介质中的散射特性

田爱玲 田玉珺 王春慧 潘永强 王红军 刘丙才 朱学亮

[摘要]针对光学元件的亚表面缺陷,结合基于激光共焦层析的亚表层检测方法,建立聚焦光束在亚表面损伤介质中的传输模型,并采用有限元分析方法,仿真研究K9玻璃光学元件亚表层缺陷对聚焦光束的散射调制特性,特别对颗粒状和微裂纹...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2014, 26(09):091021

 横向剪切干涉中剪切量的选取及分析

刘丙才 田爱玲 王红军 王春慧

[摘要]横向剪切干涉技术是一种直接测量波面相位分布的光学测量方法,由于其不需要高精度的参考平面,并且能够测量偏离量较大的表面面形偏差,因此得到了更为广泛的应用。但是,通常情况下剪切量大小的选择凭工作经验来确定...

 PDF全文应用光学 | 2012, 33(03):511-514

 点阵列标定模板图像特征点提取方法

马少平 田爱玲 刘丙才 王红军

[摘要]在摄像机标定过程中,提取标定模板图像特征点的精度是影响摄像机内外参数标定精度的重要因素。本文根据条纹投影三维轮廓测量实验系统的要求制作了点阵列标定模板,在图像处理边缘理论的基础上,以圆的解析特性为依据...

 PDF全文应用光学 | 2010, 31(06):950-955

 非球面最适球面的确定方法——三点法

王红军 田爱玲 杜玉军

[摘要]根据非球面生产的实际情况.指出非球面最适球面的确定方法.详细分析最适球面的计算方法.并对一抛物面进行了实例计算,通过与最小二乘法的计算结果比较.指出该方法具有计算简单、与加工工艺过程相符合等特点。

 PDF全文应用光学 | 2004, 25(04):63-65

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