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 光学元件微吸收特性测量仪的研制

黄祖鑫 胡晓阳 周文超 田小强

[摘要]通过开展测试方法验证实验和测试参数优化实验, 结合高能激光的快速发展要求, 完成了光学元件微吸收特性测量仪的固化设计, 并初步完成了测试系统的研制, 实现了高精度、大口径、多波长、多角度、反射式测量。开展了测...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2013, 25(0s):13-18

 任意球面元件的超高反射率测量方法

易亨瑜 彭勇 黄祖鑫 陈兴无

[摘要]为了实现任意球面元件的超高反射率测量,提出直腔和折叠腔两种光腔结构,以实现0°,10°,15°和30°等不同角度下球面元件的超高反射率测量。详细分析了这两种测量方式,根据光束传输变换公式,推导了...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2013, 25(02):287-291

 小型高光束质量电光调Q重复频率激光器

易亨瑜 叶一东 周志强 黄珊 黄祖鑫 田小强 王文东 李建民 张凯

[摘要]为了达到野外使用要求,采用变反射率镜(VRM)非稳腔和折叠腔方式,研制了高光束质量的小型脉冲激光器。分析了VRM腔参数对输出激光束特性的影响,针对高光束质量输出要求,通过计算,选择出适合的谐振腔参数。为了实现小型化...

 PDF全文中国激光 | 2010, 37(09):2318-2322

 单层溶胶凝胶化学膜的损伤机理

黄祖鑫 蒋晓东 任寰 吕海兵 张磊 何钱军 彭勇 胡晓阳

[摘要]从单层ZrO2薄膜和单层SiO2薄膜的两种主要损伤形貌出发,分析产生这两种损伤形貌的原因,说明了这两种膜料的单层溶胶-凝胶化学膜损伤机理,即单层ZrO2薄膜的损伤主要由热冲击造成,而单层SiO2薄膜的损伤主要由热吸收造成...

 PDF全文中国激光 | 2006, 33(suppl):330-333

 用光腔衰荡光谱法判断钕玻璃体损伤的产生

黄祖鑫 蒋晓东 任寰 何钱军 易亨渝 彭勇

[摘要]运用光腔衰荡光谱技术测量钕玻璃在激光辐照下其透过率的变化,判断出钕玻璃体损伤的产生.实验采用直腔型衰荡光腔,通过检测钕玻璃在强激光辐照下产生应力时其透过率的变化,测试出了钕玻璃在强激光辐照下产生体损伤的激...

 PDF全文光学与光电技术 | 2005, 3(06):54-56

 反射式热透镜时变信号测量固体热扩散率的研究

陈习权 祖小涛 蒋晓东 郑万国 任寰 黄祖鑫

[摘要]介绍了采用反射式热透镜时变信号测量固体热扩散率的一种简便方法,该方法结合表面热透镜技术原理,采用表面透镜的动态变化和反射的探测光发散的幅度来确定固体的热扩散率,相对于传统的热扩散率测量方法要快捷简单.对较...

 PDF全文光学与光电技术 | 2005, 3(05):46-48

 表面热透镜技术测试光学薄膜特性研究

陈习权 祖小涛 郑万国 蒋晓东 黄祖鑫

[摘要]在薄膜特性的研究工作中,激光引起的表面形变是一种广泛应用的技术.在这种技术中,薄膜的形变(热包高度小于0.1 nm)一般是采用光热偏转技术来探测的.介绍了一种通过光学衍射效应来研究薄膜表面形变的新技术即表面热透镜...

 PDF全文光学与光电技术 | 2005, 3(01):53-57

 聚乙二醇对溶胶-凝胶SiO2增透膜激光损伤行为的影响

张磊 徐耀 黄祖鑫 杨东江 蒋晓东 吴东 孙予罕 魏晓峰

[摘要]采用溶胶-凝胶工艺制备了聚乙二醇(PEG)改性SiO2单层增透膜,用输出波长1.06μm,脉宽3ns的调Q激光系统产生的强激光进行辐照实验.观察了添加PEG前后的膜层的微结构、表面形貌以及激光损伤行为的变化,讨论了PEG对薄膜激光...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2005, 17(05):669-672

 高功率激光光学元件面形参数表征

任寰 蒋晓东 黄祖鑫 许华 钟伟 景峰

[摘要]针对神光-Ⅲ原型装置使用的光学元件,基于国内光学元件加工现状,结合空间频段的概念,对高功率固体激光驱动器所需光学元件不同的面形评价参数进行了阐述.结合对激光远场焦斑的影响,对面形评价参数的重要性进行了举例说...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2005, 17(03):409-411

 大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统

易亨瑜 彭勇 胡晓阳 王耀梅 王文东 周文超 郑为民 黄祖鑫 廖原

[摘要]为了测量高功率激光传输系统中大口径高反射率元件,研制了一种镜面扫描的精密测量系统.介绍了该系统的结构及其工作原理,分析了影响系统测量精度的因素,理论上估算的测量精度为2×10-5.在直腔下对该系统的性能进行...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2005, 17(11):1601-1604

 高功率激光宽谱增透膜的研究

吕海兵 魏芸 蒋晓东 黄祖鑫 李珂

[摘要]为满足高功率激光抽运中氙灯及其防护隔板玻璃宽谱增透的要求,采用提拉镀膜法在K9基片上通过溶胶-凝胶工艺镀制有机硅-SiO2双层宽谱增透膜系.在实验的基础上讨论了有机硅-SiO2双层膜系中膜厚的搭配以及膜系的宽谱增透特...

 PDF全文中国激光 | 2004, 31(s1):468-470

 激光预处理对光学元件膜层性能的影响

黄祖鑫 蒋晓东 任寰 钟伟 叶琳 李珂 吕海兵

[摘要]激光预处理是使膜层提高损伤阈值的一种有效手段,现在流行的激光预处理机理模型之一是缺陷消除模型.实验从对元件膜层激光预处理前后各项参数的对比出发,分析了激光预处理对膜层的影响,说明了光学元件膜层激光预处理的...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2004, 16(01):23-26

 溶胶-凝胶法制备抗激光损伤SiO2疏水减反射膜

徐耀 范文浩 黄祖鑫 章斌 吴东 蒋晓东 孙予罕 魏晓峰

[摘要]通过溶胶-凝胶法,在碱性条件下水解缩聚正硅酸乙酯获得含有SiO2颗粒的溶胶;以甲基三乙氧基硅烷在酸性条件下水解缩聚获得双链聚合物溶液,作为疏水基团的引入剂.用两者的混合物在玻璃片上旋转镀膜.利用光子相干光谱法、...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2004, 16(01):40-44

 大型激光装置光学元件管理思路

叶琳 彭净 黄祖鑫 蒋晓东

[摘要]光学元件是高功率大能量强激光系统的基石,光学元件管理也就成为一个重要环节.由于高功率激光系统涉及的光学元件种类多,数量大且参数各异,并且要管理光学元器件的进、出库、各类文字性记录及各种检测数据资料,特别是为...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2003, 40(06):51-53

 提高氧化物介质膜层损伤阈值的研究

刘强 林理彬 蒋晓东 黄祖鑫 甘荣兵 唐方元

[摘要]采用新清洗工艺对 K9玻璃基片进行了清洗,镀制了多种氧化物介质膜,镀膜后的膜层损伤阈值比一般清洗要高出一倍多。用等离子体光法和相衬显微镜观察法相结合来判断损伤,分别用1 on 1测试法和R on 1测试法确定了膜层的激...

 PDF全文中国激光 | 2003, 30(07):637-641

 高功率激光膜层损伤过程研究

蒋晓东 黄祖鑫 任寰 唐灿

[摘要]光学膜层在强激光的辐照下,其损伤过程和损伤结果是多种多样的。通过系统研究几类常用膜层在不同条 件下的激光破坏过程,发现通过控制激光辐照条件,可改变光学膜层的破坏方式和破坏程度, 能安全可靠地提髙光 学元件损伤...

 PDF全文中国激光 | 2002, 29(s1):477-480

 高精度损伤阈值测量中测试口径效应研究

黄祖鑫 蒋晓东 任寰 甘荣兵 钟伟

[摘要]随着光学元件损伤阈值测试研究工作的深入开展,有效、准确地测量和描绘它们的激光损伤阈值需要考虑多个因素.从不同口径的测试光束入手,采用R∶1测试方式,运用R∶1平均阈值的新概念,讨论了相同样品用不同测试口径测试其...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2002, 14(06):853-856

 光学膜层激光预处理过程研究

蒋晓东 黄祖鑫 任寰 彭净 叶琳 唐灿

[摘要]光学元件经过激光预处理后,其抗激光破坏能力最大提高2倍以上 ,系统研究激光预处理机理和工艺,能安全可靠地提高光学元件损伤阈值,提升高功率激光 系统的能量密度.研究了几种sol-gel膜、PVD膜在预处理前后膜层表面的变...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2002, 14(03):321-324

 波前功率谱密度函数评价方法探讨

任寰 卓志云 蒋晓东 彭净 叶琳 黄祖鑫 唐灿

[摘要]波前功率谱密度PSD(Power Spectral Density)能定量给出波前畸变的空间频率分布、限定波纹度和粗糙度指标,全面反映ICF驱动器对高功率激光光学元件加工质量的特殊要求.给出了波前功率谱密度PSD的定义及计算方法,并使用...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2002, 14(02):279-282

 用透射反射扫描法检测光学薄膜的激光损伤

甘荣兵 林理彬 蒋晓东 黄祖鑫 钟伟 郑万国 叶琳

[摘要]用波长1.06μm的激光透射反射自动扫描装置扫描了激光辐照前后薄膜的反射比和透射比.薄膜样品的工作波长为1.06μm.将扫描结果与相衬显微镜观察到的形貌相对照.实验结果表明,用透射反射扫描法不仅能反映出相衬显微镜所...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2002, 14(01):45-48

 UBK7玻璃后表面缺陷诱导体内激光损伤

甘荣兵 甘荣兵 林理彬 卢勇 刘强 卓志云 蒋晓东 黄祖鑫 叶琳

[摘要]对UBK7玻璃在波长为1.064μm的短脉冲激光作用下产生的损伤进行了研究。通过对体损伤的形貌的相衬显微镜观测,发现体内和后表面炸裂点间的丝状损伤,从而提出后表面缺陷导致体损伤的理论解释。同时分析了表面损伤和体损...

 PDF全文强激光与粒子束 | 2001, 13(05):603-606

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