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 Current-induced degradation and lifetime prediction of 310??nm ultraviolet light-emitting diodes

Jan Ruschel Johannes Glaab Batoul Beidoun Neysha Lobo Ploch Jens Rass Tim Kolbe Arne Knauer Markus Weyers Sven Einfeldt Michael Kneissl

[摘要]

 PDF全文Photonics Research | 2019, 7(07):B36-40

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