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 用于阿伏加德罗项目的硅球表面氧化层测量装置研究

刘文德 陈赤 樊其明 褚楚 罗志勇

[摘要]基于单晶硅原子计数原理实现阿伏加德罗常数精密测量以及质量千克单位的复现,需要测量单晶硅球体的质量和体积,球表面几个纳米厚的非均匀氧化层分布的精密测量,是确定上述参量修正值的关键。用劳厄晶向法和激光标记...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2016, 53(03):031202

 单晶硅球表面氧化层测量进展和研究

刘文德 陈赤 罗志勇 樊其明 刘玉龙

[摘要]单晶硅球法是阿伏伽德罗常数量值精密测量以及质量重新定义的一种重要方案。单晶硅球表面的氧化层厚度关系到硅球质量和直径测量结果的修正,并在阿伏伽德罗常数的相对测量不确定度中占到很大比例。讨论了表面层测量中...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2014, 51(03):030007

 玻璃基底和表面粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响

刘文德 陈赤 张航 郭炜 于靖 樊其明 徐英莹

[摘要]在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气基底空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底...

 PDF全文中国激光 | 2012, 39(s1):s107002

 TiAlON系薄膜材料的椭偏研究

刘文德 陈赤 杜淼 郝雷 徐英莹 樊其明

[摘要]对新型太阳能用薄膜材料TiAlON材料进行了椭偏研究。采用Cauchy,Lorentz和Tauc Lorentz模型对绝缘性TiAlON薄膜的椭偏测量结果进行了模拟,得到了薄膜的光学常数。通过比较色散模型及薄膜结构在不同波段的应用情况,说...

 PDF全文应用光学 | 2011, 32(06):1202-1205

 标准白场仪及视角测量方法的研究

陈赤 刘文德 徐英莹 樊其明 张静

[摘要]针对目前主流彩色电视与平板显示器,建立了能够溯源到国家光谱辐射度、光度与色度基准的标准白场仪装置,可用于显示器光色特性参数测量。对该装置进行了定标,提供了标准白场仪光谱、稳定性以及光色参数。应用该标准...

 PDF全文应用光学 | 2011, 32(06):1180-1183

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