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 基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法

张博 倪开灶 王林军 刘世杰* 吴伦哲

[摘要]针对基于机器视觉的大口径光学元件表面疵病检测系统在成像过程中存在因照明不均匀等因素造成的图像背景不均匀等问题,采用了基于形态学的图像背景校正算法,提出了结合图像梯度和最大类间方差法的图像分割算法,实验...

 PDF全文光学学报 | 2016, 36(09):0911004

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