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 基于多光谱技术的光学元件表面疵病检测

罗茂 步扬 徐静浩 王向朝

[摘要]为实现对光学元件表面疵病的精确测量和计数, 提出了一种基于多光谱技术的光学元件表面疵病检测方法, 该方法采用不同波长的入射光源均匀照明光学元件表面, 通过暗场显微成像系统获得不同波长下的表面疵病图像。基于该...

 PDF全文中国激光 | 2017, 44(01):0104001

 平面面形绝对检验技术测量误差分析

徐洋 唐锋 王向朝 徐静浩 范李立 程欣

[摘要]绝对检验消除了参考面面形误差对干涉测量精度的制约,可实现纳米精度的面形测量。对现有主要平面面形绝对检验技术进行了总结比较,运用泽尼克多项式前36项构建被测平面,对边缘噪声、平面原始精度、旋转角度与偏心误...

 PDF全文中国激光 | 2011, 38(10):1008009

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