中国激光, 2016, 43 (6): 0601001, 网络出版: 2016-06-06   

猫眼回波图像随CMOS器件激光损伤变化的实验研究

Experimental Study on the Change of Cat Eye Echo Pattern with Laser Damage of CMOS Detector
作者单位
中国人民解放军电子工程学院脉冲功率激光技术国家重点实验室, 安徽 合肥 230037
摘要
成像系统中的CMOS探测器被激光损伤后,其猫眼回波会发生变化。对猫眼回波图像的变化进行了实验研究,发现随着用于损伤的激光功率增加,CMOS器件的微透镜发生分解,直至最终消失,并使器件表面形成由遮光铝膜和光敏区构成的二维光栅,猫眼回波图像内的阵列光斑也经历了逐步消失又恢复的过程。以高斯随机表面模拟微透镜表面形貌,建模计算了猫眼回波图像随微透镜损伤程度的变化,计算结果与实验现象相符。
Abstract
After the CMOS detector in imaging system is damaged by laser, the corresponding cat eye echo will change. The changes of the cat eye echo are researched experimentally. With the increase of laser power for damage, the microlens of the CMOS detector decomposes gradually, and disappeares at last. The surface of the detector turns into a two-dimensional grating composed of aluminum film and sensitive area in the end. The array spots in the cat eye echo-wave pattern goes through messy and then turns back arrays. The surface morphology of the damaged microlens is modeled by a Gaussian random surface in simulation, and the changes of the echo-wave pattern are calculated with the damage of the microlens. The theoretical results are consistent with the experimental phenomena.

雷鹏, 孙可, 李化, 聂劲松, 孙晓泉. 猫眼回波图像随CMOS器件激光损伤变化的实验研究[J]. 中国激光, 2016, 43(6): 0601001. Lei Peng, Sun Ke, Li Hua, Nie Jinsong, Sun Xiaoquan. Experimental Study on the Change of Cat Eye Echo Pattern with Laser Damage of CMOS Detector[J]. Chinese Journal of Lasers, 2016, 43(6): 0601001.

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