光学学报, 2016, 36 (12): 1234001, 网络出版: 2016-12-14   

用于超热电子诊断的单色X射线成像技术

Monochromatic X-ray Imaging Technology for Diagnostics of Hot Electrons
作者单位
中国工程物理研究院激光聚变研究中心等离子体物理重点实验室, 四川 绵阳 621900
摘要
基于球面弯晶设计了一套二维分辨的单色成像系统,使用光学仿真软件对系统进行了成像模拟。对金网格进行了背光成像, 获得了8.048 keV的单色网格成像, 空间分辨率可达9 μm。在神光II(SG-II)升级激光装置上, 利用该成像系统成功获取了二维锥靶的Kα自发光单色图像。结果表明, 该成像系统能够胜任快点火物理实验中超热电子的诊断。
Abstract
A monochromatic imaging system with two-dimensional resolution is designed based on spherically bent crystals. Ray tracing simulation to the imaging process is conducted with the usage of optical simulation software. The backlit imaging to the Au meshes is conducted and a monochromatic mesh image with an energy of 8.048 keV and a spatial resolution of 9 μm is acquired. On the SG-II updated laser facility, with this imaging system, the Kα self-luminous monochromatic image of two-dimensional cone target is successfully acquired. The results show that this imaging system is capable of hot electrons diagnostics in the fast ignition experiments.

张强强, 魏来, 杨祖华, 钱凤, 陈勇, 曹磊峰. 用于超热电子诊断的单色X射线成像技术[J]. 光学学报, 2016, 36(12): 1234001. Zhang Qiangqiang, Wei Lai, Yang Zuhua, Qian Feng, Chen Yong, Cao Leifeng. Monochromatic X-ray Imaging Technology for Diagnostics of Hot Electrons[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(12): 1234001.

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