1989年，美国罗彻斯特大学的E.Wolf教授等报道了光波经介质散射后光谱会发生变化。此后，光波经由介质散射后的统计光学特性研究备受国内外广泛关注。通过测量光波被介质散射后的统计光学特性，可了解散射介质的结构特征，在遥感、成像以及医疗探测等领域有着潜在的应用。

      浙江大学赵道木教授等（Opt. Lett., 2010, 35, 318-320）首先研究了光波经由随机分布的粒子系统散射后远场的统计光学特性，同时给出了一种测定粒子系统散射势结构因子对的方法。在一级波恩近似条件下，光波被粒子系统散射后远场的交叉谱密度函数与入射光谱、粒子的散射势以及粒子的分布紧密相关。对于随机分布的粒子系统而言，散射势结构因子对是衡量粒子在系统中分布的一个重要参数。在已知入射光谱和系统中粒子散射势的情况下，通过测量光波散射后远场的交叉谱密度函数，便可逆向得到随机分布的粒子系统的散射势结构因子对，进而确定粒子系统的结构特征。该成果为随机分布的粒子系统结构特征的确定提供了一种新方法和技术。该成果发表后不久，已被Phys. Rev. A, Opt.Lett., Opt. Commun.等期刊论文重点引用和评述。