在超短脉冲技术中,腔内元件的相位色散效应起了重要影响,本文介绍了一个测定宽带多层高反射膜的相位色散的实验方法,同时计算了反射膜的相位二阶导数,实验表明宽带多层反射膜相移和相位二阶导数与膜层设计和工艺过程有密切关系.

本文介绍用偏振全息干涉术测量多层介质膜的反射相位畸变.指出在会聚或发散光束中使用的反光和分光元件,应用于高质量成像光学仪器中和某些高精度干涉仪中时必须认真考虑它引入的相位畸变和相位色散.理论计算和实验结果一致说明对于特定的元件,相位畸变和相位色散可达波长量级.

本文叙述了软X光滤光片的原理和制备工艺.对制备工艺中的一些主要问题进行了较为详细的阐述.最后结出了实验结果.特别是将铝-镁合金膜和铝膜滤光片的性能进行了比较.铝-镁合金膜滤光片在抗火箭发射所产生的损伤能力方面比铝膜滤光片有很大的提高.

本文从数值模型出发,分析了混合型TEA CO_2激光器的工作特性.给出了连续低气压增益管在阈值以下工作时,混台型TEA CO_2器件获得单纵模脉冲的几率.其结果与实验符合得较好.

本文从理论上推导了非线性介质中二重简并前向相干多光子散射,得到了直接和级联两种耦合过程,实验上获得了多达15级的前向相干散射波,实验结果与理论计算相符合.

本文叙述了如何将快光束耦合到离轴的F-P干涉仪中去,以补偿都普勒(Doppler)展宽的原理.研究800keV的He~+离子束经过一个横向磁场时的高分辨束箔光谱学,采用了F-P干涉仪的离轴技术,观察到的谱线宽度约为0.2A.

本文在文献[10]的基础上,给出了用Young盘形式的谱项波函数计算f~N组态谱项能的系统方法,导出了若干Young盘基矩阵元的表达式和计算规则,并应用实际例子进行说明.

本文利用代数方法计算了SnO分子几个低位电子态的振动能级和它们之间跃迁产生的光谱带,所得结果与传统方法和测量值一致.

本文报道了一个可测量连续与脉冲激光波长的通用激光波长测量系统.系统主要包括一台光栅光谱仪和一台光学多道分析仪.运用低密度光栅并工作在高衍射级次,在输出谱面处He-Ne激光线和被测激光谱线的间距由光学多道分析仪的列阵实时读出,激光波长由个人计算机给出,精度达 0.01.文中给出对精度的分拆.

本文介绍光栅-三平板干涉仪的原理、特性及其在激光等离子体测量等中的应用.

利用了四频环形激光对磁场的高度敏感性测量了Tb玻璃(磁场范围0.8×10~(-5)T(Tesla)～10~(-9)T,ZF_2玻璃(0.21×10~(-4)T～1.89×10~(-4)T的费尔德常数(Verdet constant).在本实验精度范围内,得到了该常数大小和强磁场下的值一致.以此实验结果为基础,简要地讨论了用置于环形激光中的法拉第磁光材料感测地磁场的构思和发展前景.

在非相干光和激光(高斯光束)传输情况下,分别导出了光纤-反射器耦合的后向反射功率耦合系数的一般表示式.并且,给出光纤与几种典型反射器耦合的后向反射功率耦合系数的表示式以及当反射器沿光纤-反射器系统的轴向移动时耦合系数的曲线分布.还对光纤-平面镜和光纤-“猫眼”反射器的后向反射功率耦合系数的曲线分布作了实验测量.

本文用像差平衡的方法求出优化的全息分路器光路结构参量.在这一方法中,波长移动产生的波像差达到最小值.通过光路追迹求出了点光源点的像点尺寸.为了减小像点尺寸,我们找到了一种相位补偿函数,通过计算全息实现相位补偿,并求出补偿后的像点尺寸.

本文从彩色负片、彩色相纸与CIE标准色度观察者光谱三刺激值相匹配的角度出发,对理论“银幕效果”进行了推导.提出了对彩色胶片进行颜色测量时所用的红色、绿色和蓝色峰值位置,半波宽度和峰值允差.并对通常波长数值进行颜色测量作了同色异谱分析和误差分析.从实验结果来看是成功的.可供彩色摄影工作者和照相器材研究设计人员参考.

在高效等强多光束分光光栅的设计中引入迭代法,形成了一种新的设计思想;9光束高效等强多光束分光光栅的设计实例初步说明了该设计思想的可行性.

研究了光学玻璃的热光常数与温度和波长的关系.结果表明:热光常数W值随温度上升而线性增加,可用方程式W_(λt)=W_(λ0)+θt表示;随着波长(从短波到长波)增大,热光常数W值下降,可用多项式W_λ~2=A_0+A_1λ~2+A_2λ~(-2)+A~3λ(-4)+…表示.利用上述公式可以计算光学玻璃室温至转变温度范围内任意温度及可见光谱区内任意波长处的热光常数W值.