期刊基本信息
创刊:
1974年 • 半月刊
名称:
中国激光
英文:
Chinese Journal of Lasers
主管单位:
中国科学院
主办单位:
中国科学院上海光机所
中国光学学会
中国光学学会
出版单位:
中国激光杂志社
主编:
李儒新
执行主编:
罗毅
副主编:
骆清铭 张镇西 李学春 陈岐岱 顾冬冬 周朴
ISSN:
0258-7025
刊号:
CN 31-1339/TN
电话:
021-69917051
邮箱:
地址:
上海市嘉定区清河路390号
邮编:
201800
定价:
155元/期
中国激光 第26卷 第1期
在平凹稳定腔中用Cr4+:YAG作为可饱和吸收体实现了脉冲Nd:YAG激光器的被动锁模运转,得到平均脉宽为190 ps,输出能量为22 mJ的脉冲序列。理论上分析了Cr4+:YAG被动锁模的动力学过程以及Nd:YAG的克尔透镜自聚焦在被动锁模中的作用。
被动锁模 克尔透镜自聚焦 激发态吸收饱和 探讨了利用半共焦腔的“反演”特性及放电区增益分布特性以及调节平面高反膜红外输出耦合窗口来获得不同的对称性、均匀性良好的激光输出花样,并通过实验获得了与理论相符的结果。
半共焦腔 “反演” 增益分布 激光输出花样 介绍了九十年代发展起来的超瑞利散射(HRS)技术的简史、理论、研究意义以及作者目前的研究工作。HRS是溶液或气体中分子的二阶或高阶非相干散射,通过HRS技术不仅可以测定分子的超极化率,还可以了解分子结构和分子间的相互作用。给出了HRS技术的实验装置及分析方法,并总结了其优越于传统的电场诱导二次谐波产生(EFISHG)技术的一些特点。
非线性光学 超瑞利散射 超极化率 相移器是相移干涉计量中的关键技术,对测量精度有很大的影响,关系到相移技术的成败。介绍了一种闭环控制的高精度相移器,输出电压精度为0.1%,相移器重复误差小于3°,用该相移器的电子散斑干涉计量系统测量精度可达λ/100。
电子散斑 相移器 干涉计量 提要 介绍了利用光腔衰荡光谱技术高精度地检测高反镜的反射率的实验方法。利用直型和折叠型衰荡光腔结合,可以高精度地测定高反镜的反射率。实验结果表明这一方法可以精确地测定各种反射角度、镜片基底和尺寸的高反镜的反射率,而且还可以检测实际工作气氛下高反镜的反射率。
光腔衰荡光谱 反射率 高功率激光 理论分析了四频差动激光陀螺中由于镜片的S-P相位和Q的各向异性及光束不过水晶片光轴等因素所引起的左、右旋偏振模式间的差分损耗。这种差分损耗会导致激光陀螺中零漂的形成。这一问题的研究对陀螺性能的改进具有重要的参考价值。
激光陀螺 S-P各向异性 差分损耗 在传统的半解析Monte Carlo方法的基础上作了进一步改进,用扭曲的Henyey-Greenstein函数(H-G函数)来表示散射相位函数,并由H-G函数直接得出散射角θ的表达式。计算结果表明,用此方法对海洋激光雷达接收信号的模拟与实验结果十分吻合。
海洋激光雷达 Monte Carlo方法 多次散射 扭曲的H-G函数 采用氙灯泵浦,Cr4+:YAG被动调Q, 实现了自倍频晶体NYAB调Q激光运转,测量了Cr4+:YAG不同小信号透过率及不同泵浦能量下绿激光单脉冲的输出能量、脉冲宽度、重复率,给出了描述NYAB晶体Cr4+:YAG调Q工作原理的耦合波方程组,数值求解该方程组所得的理论结果与实验值相符。
NYAB晶体 被动调Q 数值解 将针孔透射光栅谱仪和X射线CCD相结合,探测到超短脉冲激光(<60 fs)与多种固体平面靶相互作用而产生的、波长范围在1~15 nm之间的高重复频率X射线发射,随着入射激光能量的增加,各种靶不同的X射线带的发射呈线性增长,并发现在超短脉冲激光作用下,L带发射效率最高元素的原子序数比长脉冲打靶时要来得小。
X射线CCD X射线 针孔透射光栅 运用激光熔覆技术在AISI1045钢表面制备了30vol-% SiCp/Ni-Cr-B-Si-C涂层。SEM和TEM观察分析表明:SiCp在熔覆过程中完全溶解;涂层结合区组织为共晶结构;涂层组织由初生石墨球G,分布在γ-Ni固溶体枝晶中的M23(C,B)6细小网状树枝晶以及少量Ni+Ni3(B,Si)层片状共晶组成;Si在Ni固溶体中的固溶度显著增大,高达14.41wt-%;M23(C,B)6含有高密度堆垛层错;Ni3(B,Si)相具有长周期结构。
激光熔覆 SiCp/Ni合金涂层 微观组织 利用准分子脉冲激光(XeCl,λ=308 nm)对Si,红宝石和钛宝石靶进行消融,从而得到SiO2和红宝石、钛宝石的钠米级粉末。用透射电镜对粉末的物质形态进行分析,并对消融产生的纳米颗粒在其颗粒大小及分布上予以分析统计。
准分子激光 纳米粒子 消融 实验使用脉冲激光熔蚀金属铝靶,使溅射的物质粒子和真空室中的氮气反应以淀积氮化铝(AlN)薄膜,淀积时引入氮气直流放电以促使Al和N发生完全反应制备高质量符合化学计量比的AlN薄膜。讨论了脉冲能量密度、基底温度、气体放电对所沉积薄膜组织结构的影响。实验结果表明,当DE=1.0 J*cm-2,PN2=13.333 kPa,Tsub=200℃,V=650 V,f=5 Hz,dS-T=4 cm时,高质量的AlN薄膜被成功地沉积于Si(100)基片上。分析表明薄膜是具有高取向性的AlN(100)多晶膜,薄膜的能带间隙约为6.2 eV,其电阻率和击穿电场分别为2×1013 Ω*cm和3×106 V*cm-1。
准分子激光 反应淀积 AlN薄膜