2014年8月4日，在显微镜及显微分析年会(Microscopy & Microanalysis 2014，M&M2014)上，Peter Duncumb显微分析卓越奖授予了美国亚利桑那州立大学教授Ondrej Krivanek。

      Peter Duncumb Award设立于2007年，主要奖励那些显微分析领域在技术、领导、教育以及专业活动方面做出卓越贡献的人。它由显微分析学会(MAS)颁发，包括一块奖牌和2000美元的奖金。布鲁克纳米是该奖项的独家赞助商。

      Ondrej Krivanek教授现就职于美国亚利桑那州立大学，是Nion公司的共同创始人及总裁。他在英国利兹大学获得学士学位，并于剑桥大学获得博士学位。在他的职业生涯中，他曾在京都大学、贝尔实验室和加州大学伯克利分校任博士后;在亚利桑那州立大学任物理学助理教授;在Gatan担任研究总监;在东京工业大学、法国国家科学研究中心Orsay核物理研究所和剑桥大学任客座教授;并在华盛顿大学担任研究教授。

      Ondrej Krivanek教授设计发明的仪器可以在世界上许多地方的实验室中看到，如：Gatan的电子能量损失光谱仪和成像滤波器，CCD相机和DigitalMicrograph软件，以及近年来的电子光学畸变校正器、Nion的的电子显微镜和单色器。

      Ondrej Krivanek教授发表了240余篇论文和书籍章节，被引用超过6000次。


来源：仪器信息网