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杨海  葛良全  谷懿  张庆贤  熊盛青  
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摘要
从新疆采集了13件岩矿石样品, 用于研究蚀变过程中矿物的元素含量变化特征。 成都理工大学研制的IED-6000型原位微区X射线荧光分析仪被应用于获得蚀变过程中矿物的化学和物理数据。 这种无损的微区X射线荧光分析仪主要是以低功耗X光管和电致冷Si-PIN半导体探测器为基础, 采用毛细管X射线透镜实现微区测量的功能, 并且能够集成到任何显微镜上进行测量, 焦斑长轴直径约110 μm。 通过微区X射线荧光测量, 将黝铜矿更正为黄铁矿, 提高了矿物鉴定的效率及准确性; 在蚀变剖面研究中, 矿化岩石样品的长石颗粒都富含Cu和Zn元素, 可以作为找矿直接指示元素。 Cr, Mn和Co等元素含量与矿化程度呈负相关。
光谱学与光谱分析
2013, 33(11): 3137
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