
葡萄霜霉病是全球危害最严重的葡萄病害, 对该病进行早期检测和防治, 可提高葡萄品质和产量, 提出一种基于多光谱荧光成像技术(MFI)和支持向量机模型(SVM)的霜霉病早期检测方法。 对人工接种霜霉病的葡萄叶片(145个)和健康对照叶片(145个)从叶背面连续6天进行多光谱荧光成像, 获得试验叶片16个荧光参数(4个单独波段F440, F520, F690, F740及其相互比值)的图像。 在分析不同荧光波段图像随接种天数(DPI)变化规律基础上, 通过单因素方差分析和相关性分析, 优选出进行霜霉病早期检测的4个波段特征F520, F690, F440/F740, F690/740, 利用这4个特征构建基于SVM的霜霉病检测模型。 试验发现, 16个荧光参数都有早期检测霜霉病的潜力, 四个单独波段中F440和F520比F690和F740对霜霉病的侵染更敏感, 6DPI才显症的病斑能在F440和F520波段2DPI(接种后第二天)的荧光图像中凸显, 接种叶片F440和F520波段荧光强度均随着DPI增加快速升高, 在2DPI显著高于健康叶片(p<0.01), 并随着DPI增加更加显著(p<0.0001); 接种叶片F690和F740波段荧光强度均随着DPI增加逐渐减小, 1DPI—3DPI与健康叶片无显著差异, 从4DPI开始显著低于健康叶片(p<0.05), 并在5DPI—6DPI更加显著(p<0.01); 健康叶片荧光参数变化很小。 F440极易受干扰, 变异系数最大, F520最稳定。 随着DPI增加, 叶片被侵染程度加深, 4个特征融合的SVM模型对健康和接种叶片检测准确率逐渐提高, 1DPI的准确率为65.6%, 3DPI检测准确率为82.2%, 整个试验周期(1DPI—6DPI)的平均检测准确率达84.6%, 高于单一特征中最优波段F520的阈值检测结果(1DPI的准确率为61.1%, 3DPI检测准确率为78.9%, 整个试验周期为80.0%)。 结果表明利用MFI技术和SVM模型能实现霜霉病显症前的早期检测, 为便携式葡萄霜霉病早期诊断设备的开发提供了理论依据。