光锥与CCD耦合效率的理论分析

王耀祥; 田维坚; 黄琨; 张薇; 汪丽

光子学报, 2004, 33 (3): 318, 网络出版: 2006-10-25

光锥与CCD耦合效率的理论分析

王耀祥田维坚黄琨张薇汪丽

作者单位

中国科学院西安光学精密机械研究所光纤与集成光学研究室,西安,710068

光锥耦合效率信噪比 CCD

摘要

光锥与CCD的耦合技术是研制ICCD图像传感器的关键技术,本文主要从理论上分析并讨论了光锥与CCD耦合器件的耦合效率及其影响因素,进一步分析讨论了耦合效率对耦合器件信噪比的影响.证明了光锥与CCD的耦合效率不仅降低ICCD探测效率而且降低ICCD信噪比,并提出了提高光锥与CCD耦合效率的方法和途径.

Abstract

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王耀祥, 田维坚, 黄琨, 张薇, 汪丽. 光锥与CCD耦合效率的理论分析[J]. 光子学报, 2004, 33(3): 318. 王耀祥, 田维坚, 黄琨, 张薇, 汪丽. [J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2004, 33(3): 318.