光电工程, 2006, 33 (5): 1, 网络出版: 2007-11-14
偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响
Effect of deflection distance on tracking capability of photoelectric tracking system with ameliorated X-Y double-axis gimbal
摘要
天顶跟踪盲区是地平式光电跟踪系统的固有缺陷.X-Y双轴式光电跟踪系统(规则X-Y双轴式)可以解决过顶跟踪问题,但跟踪范围极为有限,把视轴沿X轴方向平移偏距D,形成一种改进的X-Y双轴式光电跟踪系统,即偏X-Y双轴式光电跟踪系统.偏X-Y双轴式光电跟踪系统可以解决过顶跟踪问题,其跟踪范围与规则X-Y双轴式光电跟踪系统相比有很大提高.由D引入的跟踪误差可以忽略或修正,但具有更大的地平面跟踪盲区.
Abstract
刘兴法, 马佳光, 陈洪斌, 岑明, 王强. 偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响[J]. 光电工程, 2006, 33(5): 1. 刘兴法, 马佳光, 陈洪斌, 岑明, 王强. Effect of deflection distance on tracking capability of photoelectric tracking system with ameliorated X-Y double-axis gimbal[J]. Opto-Electronic Engineering, 2006, 33(5): 1.
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