光电工程, 2003, 30 (6): 36, 网络出版: 2007-11-14
采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究
A study on high-precision measurement of large-size axis diameter with array CCD
摘要
采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题.面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128-]35mm的轴径,其测量精度高达±0.01mm.
Abstract
王庆有, 蔡锐, 马愈昭, 齐龙. 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究[J]. 光电工程, 2003, 30(6): 36. 王庆有, 蔡锐, 马愈昭, 齐龙. A study on high-precision measurement of large-size axis diameter with array CCD[J]. Opto-Electronic Engineering, 2003, 30(6): 36.
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