作者单位
摘要
天津大学 精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室,天津 300072
论述了PS版质量检测系统采集的基本原理。该系统采用了线阵CCD机械拼接扫描、多域值二值化高速数据存储、PCI高速图像采集卡、计算机控制等技术。在Visual C++6.0的环境下,用Windriver开发了PCI总线接口卡的软件驱动程序。利用示波器及其在PC机上对PS版采集系统所采集的数据进行了验证,取得了较为满意的结果。
线阵CCD 机械拼接 数字二值化 PCI总线接口 linear CCD mechanical splice two-value digitalization PCI interface 
光学技术
2006, 32(2): 0316
作者单位
摘要
1 天津大学精密仪器与光电子工程学院,教育部光电信息技术科学重点实验室,天津300072
2 天津大学?芤瞧饔牍獾缱庸こ萄г?教育部光电信息技术科学重点实验室,天津300072
为降低线阵CCD拼接测量难度,提出改进的多光学系统线阵CCD拼接测量法.根据检测幅宽和精度要求,将较宽的被测幅面分成若干区域.各区域放置独立可调的光学成像系统及线阵CCD.调整各光学系统,使总成像范围覆盖整个被测幅面.几个线阵CCD同步驱动并行采集.图像信号通过PCI高速数据采集系统送入计算机.为提高判别速度,采用多尺度灰度形态学方法实现快速图像增强和缺陷判别,每秒钟可处理20幅2048像素×200像素的8bit灰度图像.实验表明,可实现8个线阵CCD拼接检测幅面宽1.2m彩色感光胶片的表面质量,检测速度最高可达90m/min,可识别直径在0.1mm以上的缺陷,准确率在96%以上.
彩色胶片 涂层测量 实时测量 CCD 
光电工程
2006, 33(1): 108
王庆有 1,2蔡锐 1,2马愈昭 1,2齐龙 1,2
作者单位
摘要
1 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072
2 信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题.面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128-]35mm的轴径,其测量精度高达±0.01mm.
非接触测量 面阵CCD 图像拼接 
光电工程
2003, 30(6): 36
作者单位
摘要
1 天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津,300072
2 光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程.该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线.采用CCD拼接技术,测量精度可达到1(m,测量范围80mm.
非接触测量 线阵CCD 应力测量 变形测量 
光电工程
2002, 29(4): 20

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