为降低线阵CCD拼接测量难度,提出改进的多光学系统线阵CCD拼接测量法.根据检测幅宽和精度要求,将较宽的被测幅面分成若干区域.各区域放置独立可调的光学成像系统及线阵CCD.调整各光学系统,使总成像范围覆盖整个被测幅面.几个线阵CCD同步驱动并行采集.图像信号通过PCI高速数据采集系统送入计算机.为提高判别速度,采用多尺度灰度形态学方法实现快速图像增强和缺陷判别,每秒钟可处理20幅2048像素×200像素的8bit灰度图像.实验表明,可实现8个线阵CCD拼接检测幅面宽1.2m彩色感光胶片的表面质量,检测速度最高可达90m/min,可识别直径在0.1mm以上的缺陷,准确率在96%以上.