电光与控制, 2017, 24 (7): 75, 网络出版: 2017-09-21   

全息波导元件的光线追迹及误差分析

Ray Tracing and Error Analysis of Holographic Waveguide
作者单位
1 光电控制技术重点实验室, 河南 洛阳 471000
2 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所, 河南 洛阳 471000
3 中国人民解放军93787部队, 北京 100076
摘要
全息波导元件的设计通常会分解为光栅设计和波导设计, 这种设计过程并不直观, 且不适用于加工误差分析。为了解决上述问题, 提出一种全息波导元件的综合分析方法, 以二维出瞳拓展的全息波导显示系统为例, 针对波导上下表面不平行度、光栅结构参数进行误差分析, 以便了解上述误差对成像质量的影响。通过对模型参数的误差分析, 对实际的生产加工过程提出有意义的精度指导。
Abstract
The design process of holographic waveguide display system is usually divided into grating design and waveguide design,which is unintuitive and incapable for machining error analysis.Therefore,we propose a new comprehensive method for holographic waveguide design,which analyzes the diffraction process and transmission process of light synthetically.Taking the 2-D exit-pupil expander holographic waveguide display system as an example,analysis is made to the error caused by the waveguide wedge and grating parameters.In addition,their influence on imaging quality is also analyzed.This analysis method can provide the required accuracy for manufacture process.

高阳, 何永学, 赵龙波, 谢意, 康明武. 全息波导元件的光线追迹及误差分析[J]. 电光与控制, 2017, 24(7): 75. GAO Yang, HE Yong-xue, ZHAO Long-bo, XIE Yi, KANG Ming-wu. Ray Tracing and Error Analysis of Holographic Waveguide[J]. Electronics Optics & Control, 2017, 24(7): 75.

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