用于光谱仪消像差的施密特校正板设计 | 网络首发 -- 中国光学期刊网

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光学学报

ESCI,EI,SCOPUS,CJCR,CSCD,北图

2019年第39卷第04期5页

用于光谱仪消像差的施密特校正板设计

王岩 ¹付璐 ¹陈平 ²刘希芸 ¹刘伟伟 ²林列 ³

录用时间：2018-06-16

论文栏目

成像系统

作者单位

¹ 南开大学电子信息与光学工程学院，现代光学研究所

² 南开大学现代光学研究所

³ 天津南开大学现代光学研究所

论文摘要

光谱仪的光谱分辨率与其光学系统的像差相关。本文针对光谱仪普遍存在像差的问题，基于施密特系统的基本原理，设计了用于消光谱仪像差的施密特校正板，校正板的面形方程为x= ?2.515×10?9y4，绘出了施密特校正板的面形图。在此基础上，在ZEMAX 环境下模拟和分析了加入施密特校正板前后光谱仪系统的成像特性。结果显示，原始光谱仪像面点斑的RMS 半径为563.074 μm，带有施密特校正板光谱仪像面点斑的RMS半径为252.774 μm，施密特校正板消除了55.11%的光谱仪像差。本文的施密特校正板设计方法及其在一款特定光谱仪中的应用，为改善光谱仪的分辨率提供了一种技术参考。

施密特校正板像差光谱仪设计

引用本文

王岩, 付璐, 陈平, 刘希芸, 刘伟伟, 林列. 用于光谱仪消像差的施密特校正板设计[J]. 光学学报, 2019, 39(04): 5.

DOI：10.3788/aos201939.04成像系统05

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