半导体光电, 2018, 39 (3): 414, 网络出版: 2018-06-29   

大口径细光束自准直测量系统的误差源分析

Analysis of Error Source for Large Aperture Thin Beam Autocollimating Measurement System
作者单位
1 中国科学院上海应用物理研究所, 上海 201800
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 重庆理工大学, 重庆 400054
引用该论文

赵玉平, 彭川黔, 王劼. 大口径细光束自准直测量系统的误差源分析[J]. 半导体光电, 2018, 39(3): 414.

ZHAO Yuping, PENG Chuanqian, WANG Jie. Analysis of Error Source for Large Aperture Thin Beam Autocollimating Measurement System[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2018, 39(3): 414.

参考文献

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