平面光栅效率仪测量过程分析与结果修正

寇婕婷; 巴音贺希格; 唐玉国; 齐向东; 于宏柱

doi:doi:10.3788/aos201131.0705002

光学学报, 2011, 31 (7): 0705002, 网络出版: 2011-06-28

平面光栅效率仪测量过程分析与结果修正

Testing Process and Result Revising on Instrument for Plane Grating Diffraction Efficiency

寇婕婷 ^1,2,*巴音贺希格 ¹唐玉国 ¹齐向东 ¹于宏柱 ¹

作者单位

¹ 中国科学院长春光学机密机械与物理研究所, 吉林长春 130033

² 中国科学院研究生院, 北京 100049

引用该论文

寇婕婷, 巴音贺希格, 唐玉国, 齐向东, 于宏柱. 平面光栅效率仪测量过程分析与结果修正[J]. 光学学报, 2011, 31(7): 0705002.

Kou Jieting, Bayanheshig, Tang Yuguo, Qi Xiangdong, Yu Hongzhu. Testing Process and Result Revising on Instrument for Plane Grating Diffraction Efficiency[J]. Acta Optica Sinica, 2011, 31(7): 0705002.

引用列表

1、光谱宽度与光束截面因子对平面光栅衍射效率测量的影响光学精密工程, 2014, 22 (3): 562

2、凹面光栅衍射效率测量值的影响因素及补偿方法研究光谱学与光谱分析, 2013, 33 (11): 3162

3、宽谱高分辨平场凹面全息光栅光谱仪设计光学学报, 2012, 32 (4): 409002

4、 Czerny-Turner正交型光栅单色仪的波长校准光谱学与光谱分析, 2012, 32 (4): 1127

寇婕婷, 巴音贺希格, 唐玉国, 齐向东, 于宏柱. 平面光栅效率仪测量过程分析与结果修正[J]. 光学学报, 2011, 31(7): 0705002. Kou Jieting, Bayanheshig, Tang Yuguo, Qi Xiangdong, Yu Hongzhu. Testing Process and Result Revising on Instrument for Plane Grating Diffraction Efficiency[J]. Acta Optica Sinica, 2011, 31(7): 0705002.

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