激光与光电子学进展, 1988, 25 (8): 14, 网络出版: 2013-07-17  

用电光法测量高速集成电路

作者单位
摘要
超快集成电路能够产生用普通方法不能测量的电脉冲,这就向研制这种电路的工程师提出了一个难题。
Abstract
参考文献

从征. 用电光法测量高速集成电路[J]. 激光与光电子学进展, 1988, 25(8): 14. 从征. [J]. Laser & Optoelectronics Progress, 1988, 25(8): 14.

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