长曲率半径测量系统精度设计及分析
魏凤龙, 田伟, 彭石军. 长曲率半径测量系统精度设计及分析[J]. 激光与光电子学进展, 2017, 54(6): 061205.
Wei Fenglong, Tian Wei, Peng Shijun. Precision Design and Analysis of Large Curvature Radius Measurement System[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2017, 54(6): 061205.
[1] 彭石军, 苗二龙, 史振广, 等. 高精度曲率半径测量研究[J]. 激光与光电子学进展, 2014, 51(1): 011201.
[2] 徐永祥, 陈 磊, 朱日宏, 等. 微小球面曲率半径的测量研究[J]. 仪器仪表学报, 2006, 27(9): 1159-1162.
Xu Yongxiang, Chen Lei, Zhu Rihong, et al. Study on the measurement of radii of curvature of mini-spheres[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2006, 27(9): 1159-1162.
[3] Malacara D. Optical shop testing[M]. 3rd ed. Canada: John Wiley & Sons, Inc., 2007.
[4] Selberg L A. Radius measurement by interferometry[J]. Optical Engineering, 1992, 31(9): 1961-1966.
[5] 徐德衍, 王 青, 高志山, 等. 现行光学元件检测与国际标准[M]. 北京: 科学出版社, 2009.
Xu Deyan, Wang Qing, Gao Zhishan, et al. Active optical element testing and international standard[M]. Beijing: Science Press, 2009.
[6] 王孝坤, 郑立功. 一种精确测量光学球面曲率半径的方法[J]. 光学学报, 2011, 31(8): 0812010.
[7] 杨李茗, 叶海仙. 大口径大曲率半径光学元件的高精度检测[J]. 光学 精密工程, 2011, 19(6): 1207-1212.
[8] 毛 洁. 高精度曲率半径干涉测量技术研究[D]. 北京: 中国科学院大学, 2015.
Mao Jie. Study on techniques of high-accuracy radius interferometric measurement[D]. Beijing: University of Chinese Academy of Sciences, 2015.
[9] 毛 洁, 侯 溪, 伍 凡. 曲率半径干涉测量定焦误差分析[J]. 光子学报, 2015, 44(7): 0712003.
[10] 彭石军, 苗二龙. 亚微米高精度曲率半径测量及其不确定度分析[J]. 光学学报, 2014, 34(5): 0512001.
[11] 马 宏, 王金波. 仪器精度理论[M]. 北京: 北京航空航天大学出版社, 2009.
Ma Hong, Wang Jinbo. Instrument precision theory[M]. Beijing: Beihang University Press, 2009.
[12] 苗二龙, 谷勇强. 温度对Fizeau干涉仪测量重复性的影响[J]. 光学学报, 2011, 31(12): 1212008.
[13] 王 青, 徐新华. 干涉仪测量球面曲率半径的精度分析[J]. 东南大学学报(自然科学版), 2009, 39(S2): 55-59.
Wang Qing, Xu Xinhua. Precision analysis of measurement of radius of curvature by interferometer[J]. Journal of Southeast University (Natural Science Edition), 2009, 39(S2): 55-59.
魏凤龙, 田伟, 彭石军. 长曲率半径测量系统精度设计及分析[J]. 激光与光电子学进展, 2017, 54(6): 061205. Wei Fenglong, Tian Wei, Peng Shijun. Precision Design and Analysis of Large Curvature Radius Measurement System[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2017, 54(6): 061205.