液晶与显示, 2020, 35 (2): 108, 网络出版: 2020-03-26
用于液晶盒表面面形检测的短相干载频干涉方法
Low coherence carrier frequency interference method for measurement of the liquid crystal cell surface
基本信息
DOI: | 10.3788/yjyxs20203502.0108 |
中图分类号: | O753+.2 |
栏目: | 材料与器件 |
项目基金: | 国家自然科学基金资助项目(No.U1731115) |
收稿日期: | 2019-07-02 |
修改稿日期: | 2019-10-10 |
网络出版日期: | 2020-03-26 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
杨光, 陈磊, 胡晨辉, 张正宇, 朱文华. 用于液晶盒表面面形检测的短相干载频干涉方法[J]. 液晶与显示, 2020, 35(2): 108. YANG Guang, CHEN Lei, HU Chen-hui, ZHANG Zheng-yu, ZHU Wen-hua. Low coherence carrier frequency interference method for measurement of the liquid crystal cell surface[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2020, 35(2): 108.