中国激光, 2003, 30 (2): 167, 网络出版: 2006-06-27   

平晶谱仪谱线波长的直接标定

New Planar Crystal X-ray Spectrometer with Independent Wavelength Calibration Ability
作者单位
中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,上海,201800
引用该论文

刘智, 李儒新, 贾天卿, 邓蕴沛, 范品忠, 曾志男, 徐至展. 平晶谱仪谱线波长的直接标定[J]. 中国激光, 2003, 30(2): 167.

刘智, 李儒新, 贾天卿, 邓蕴沛, 范品忠, 曾志男, 徐至展. New Planar Crystal X-ray Spectrometer with Independent Wavelength Calibration Ability[J]. Chinese Journal of Lasers, 2003, 30(2): 167.

引用列表
1、 RAP晶体积分衍射效率的实验研究光子学报, 2009, 38 (4): 947
2、 利用平晶谱仪测量谱线波长的新方法中国激光, 2008, 35 (4): 587
3、 邻苯二钾酸氢铊晶体积分衍射效率的标定强激光与粒子束, 2007, 19 (11): 1827
4、 激光等离子体X射线椭圆弯晶谱仪的设计中国激光, 2005, 32 (2): 180

刘智, 李儒新, 贾天卿, 邓蕴沛, 范品忠, 曾志男, 徐至展. 平晶谱仪谱线波长的直接标定[J]. 中国激光, 2003, 30(2): 167. 刘智, 李儒新, 贾天卿, 邓蕴沛, 范品忠, 曾志男, 徐至展. New Planar Crystal X-ray Spectrometer with Independent Wavelength Calibration Ability[J]. Chinese Journal of Lasers, 2003, 30(2): 167.

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