红外与激光工程, 2018, 47 (12): 1243003, 网络出版: 2019-01-10   

表面杂质和节瘤缺陷诱导薄膜元件热熔融损伤

Thermal melting damage of thin film components induced by surface impurities and nodule defects
作者单位
四川大学 电子信息学院, 四川 成都 610065
基本信息
DOI: 10.3788/irla201847.1243003
中图分类号: O484
栏目: 激光与物质相互作用
项目基金: 科技部创新人才推进计划重点领域创新团队(2014RA4051)、 天津市薄膜光学重点实验室开放基金课题(KJWX170620)
收稿日期: 2018-07-02
修改稿日期: --
网络出版日期: 2019-01-10
通讯作者:
备注: --

余霞, 徐娇, 张彬. 表面杂质和节瘤缺陷诱导薄膜元件热熔融损伤[J]. 红外与激光工程, 2018, 47(12): 1243003. Yu Xia, Xu Jiao, Zhang Bin. Thermal melting damage of thin film components induced by surface impurities and nodule defects[J]. Infrared and Laser Engineering, 2018, 47(12): 1243003.

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