强激光与粒子束, 2004, 16 (6): 685, 网络出版: 2006-05-15
硅光电二极管激光损伤阈值随激光脉宽的变化
Variation in damage thresholds of Si photodiodes with laser pulse duration
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TN249 |
栏目: | 高功率激光与光学 |
项目基金: | 国家863计划项目资助课题 |
收稿日期: | 2003-09-28 |
修改稿日期: | 2004-01-04 |
网络出版日期: | 2006-05-15 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
罗福, 江继军, 孙承纬. 硅光电二极管激光损伤阈值随激光脉宽的变化[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(6): 685. LUO Fu, JIANG Ji-jun, SUN Cheng-wei. Variation in damage thresholds of Si photodiodes with laser pulse duration[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16(6): 685.