光谱学与光谱分析, 2016, 36 (8): 2660, 网络出版: 2016-12-23  

变迹-啁啾光栅在瞬态温度测试中的研究与应用

The Research and Application of Transient Temperature Test Based on Apodized-Chirped FBG
作者单位
1 中北大学电子测试技术重点实验室, 山西 太原 030051
2 长春理工大学光电工程学院, 吉林 长春 130000
3 长春理工大学光电信息学院, 吉林 长春 130000
基本信息
DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2016)08-2660-04
中图分类号: TN253
栏目:
项目基金: 国家自然科学基金项目(61573323, 11304289), 国防基金项目(9140A08080115BG04119), 山西省留学人员科研资助项目(2014054, 2015076), 吉林省教育厅“十二五”科学技术研究规划项目(2014[B060])资助
收稿日期: 2015-11-02
修改稿日期: 2016-03-15
网络出版日期: 2016-12-23
通讯作者:
备注: --

王高, 祁乐融, 刘智超, 刘志明, 郑光金, 武京治. 变迹-啁啾光栅在瞬态温度测试中的研究与应用[J]. 光谱学与光谱分析, 2016, 36(8): 2660. WANG Gao, QI Le-rong, LIU Zhi-chao, LIU Zhi-ming, ZHENG Guang-jin, WU Jing-zhi. The Research and Application of Transient Temperature Test Based on Apodized-Chirped FBG[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2016, 36(8): 2660.

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