变迹-啁啾光栅在瞬态温度测试中的研究与应用

王高; 祁乐融; 刘智超; 刘志明; 郑光金; 武京治

doi:doi:10.3964/j.issn.1000-0593(2016)08-2660-04

光谱学与光谱分析, 2016, 36 (8): 2660, 网络出版: 2016-12-23

变迹-啁啾光栅在瞬态温度测试中的研究与应用

The Research and Application of Transient Temperature Test Based on Apodized-Chirped FBG

王高 ¹祁乐融 ¹刘智超 ^2,3刘志明 ¹郑光金 ¹武京治 ¹

作者单位

¹ 中北大学电子测试技术重点实验室, 山西太原 030051

² 长春理工大学光电工程学院, 吉林长春 130000

³ 长春理工大学光电信息学院, 吉林长春 130000

图 & 表

王高, 祁乐融, 刘智超, 刘志明, 郑光金, 武京治. 变迹-啁啾光栅在瞬态温度测试中的研究与应用[J]. 光谱学与光谱分析, 2016, 36(8): 2660. WANG Gao, QI Le-rong, LIU Zhi-chao, LIU Zhi-ming, ZHENG Guang-jin, WU Jing-zhi. The Research and Application of Transient Temperature Test Based on Apodized-Chirped FBG[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2016, 36(8): 2660.