应用光学, 2016, 37 (1): 124, 网络出版: 2016-03-22
多层膜体折射率弱不均匀度反演计算的近似模型及性能分析
Approximation model for refractive index slight inhomogeneity reverse determination of multilayers
薄膜光学 缺陷反演模型 Schrder近似 不均匀薄膜 thin film optics reverse determination model for multilayer defects Schrder approximation inhomogeneous film
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