光电工程, 2011, 38 (8): 101, 网络出版: 2011-08-24  

便携式红外电路故障检测系统

Infrared Circuit Card Tester System
作者单位
电子科技大学光电信息学院, 成都 610054
基本信息
DOI: 10.3969/j.issn.1003-501x.2011.08.017
中图分类号: TN219
栏目: 红外技术
项目基金: --
收稿日期: 2011-04-14
修改稿日期: 2011-05-04
网络出版日期: 2011-08-24
通讯作者: 周孟特 (mad8782@163.com)
备注: --

周孟特, 叶玉堂, 王智芳, 刘宁, 罗颖, 孙强. 便携式红外电路故障检测系统[J]. 光电工程, 2011, 38(8): 101. ZHOU Meng-te, YE Yu-tang, WANG Zhi-fang, LIU Ning, LUO Ying, SUN Qiang. Infrared Circuit Card Tester System[J]. Opto-Electronic Engineering, 2011, 38(8): 101.

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