光电工程, 2011, 38 (8): 101, 网络出版: 2011-08-24
便携式红外电路故障检测系统
Infrared Circuit Card Tester System
基本信息
DOI: | 10.3969/j.issn.1003-501x.2011.08.017 |
中图分类号: | TN219 |
栏目: | 红外技术 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2011-04-14 |
修改稿日期: | 2011-05-04 |
网络出版日期: | 2011-08-24 |
通讯作者: | 周孟特 (mad8782@163.com) |
备注: | -- |
周孟特, 叶玉堂, 王智芳, 刘宁, 罗颖, 孙强. 便携式红外电路故障检测系统[J]. 光电工程, 2011, 38(8): 101. ZHOU Meng-te, YE Yu-tang, WANG Zhi-fang, LIU Ning, LUO Ying, SUN Qiang. Infrared Circuit Card Tester System[J]. Opto-Electronic Engineering, 2011, 38(8): 101.