光电工程, 2011, 38 (8): 101, 网络出版: 2011-08-24  

便携式红外电路故障检测系统

Infrared Circuit Card Tester System
作者单位
电子科技大学光电信息学院, 成都 610054
补充材料

周孟特, 叶玉堂, 王智芳, 刘宁, 罗颖, 孙强. 便携式红外电路故障检测系统[J]. 光电工程, 2011, 38(8): 101. ZHOU Meng-te, YE Yu-tang, WANG Zhi-fang, LIU Ning, LUO Ying, SUN Qiang. Infrared Circuit Card Tester System[J]. Opto-Electronic Engineering, 2011, 38(8): 101.

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