CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应 | 强激光与粒子束 -- 中国光学期刊网

强激光与粒子束, 2015, 27 (9): 094001, 网络出版: 2015-11-30

CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应

Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor

汪波 ^1,2,3,4,*李豫东 ^1,2,3郭旗 ^1,2,3文林 ^1,2,3,4孙静 ^1,2,3,4王帆 ^1,2,3,4张兴尧 ^1,2,3玛丽娅 ^1,2,3,4

作者单位

¹ 中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室，乌鲁木齐 830011

² 新疆电子信息材料与器件重点实验室,乌鲁木齐 830011

³ 中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐 830011

⁴ 中国科学院大学，北京 100049

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汪波, 李豫东, 郭旗, 文林, 孙静, 王帆, 张兴尧, 玛丽娅. CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27(9): 094001. Wang Bo, Li Yudong, Guo Qi, Wen Lin, Sun Jing, Wang Fan, ZhangXingyao, Ma Liya. Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27(9): 094001.

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