液晶与显示, 2014, 29 (1): 146, 网络出版: 2014-03-14   

基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法

Algorithm for fast TFT-LCD Mura defect image segmentation based on Chan-Vese model
作者单位
1 电子科技大学 航空航天学院,四川 成都 611731
2 四川出入境检验检疫局 机电处,四川 成都 610041
引用该论文

卢小鹏, 李辉, 刘云杰, 梁平, 李坤. 基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法[J]. 液晶与显示, 2014, 29(1): 146.

LU Xiao-peng, LI Hui, LIU Yun-Jie, LIANG Ping, LI Kun. Algorithm for fast TFT-LCD Mura defect image segmentation based on Chan-Vese model[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2014, 29(1): 146.

引用列表

卢小鹏, 李辉, 刘云杰, 梁平, 李坤. 基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法[J]. 液晶与显示, 2014, 29(1): 146. LU Xiao-peng, LI Hui, LIU Yun-Jie, LIANG Ping, LI Kun. Algorithm for fast TFT-LCD Mura defect image segmentation based on Chan-Vese model[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2014, 29(1): 146.

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