液晶与显示, 2014, 29 (1): 146, 网络出版: 2014-03-14
基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法
Algorithm for fast TFT-LCD Mura defect image segmentation based on Chan-Vese model
基本信息
| DOI: | 10.3788/yjyxs20142901.0146 |
| 中图分类号: | TN141.9 |
| 栏目: | 成像技术与图像处理 |
| 项目基金: | 国家质检总局科技计划项目（No. 2012IK100） |
| 收稿日期: | 2013-08-28 |
| 修改稿日期: | 2013-09-30 |
| 网络出版日期: | 2014-03-14 |
| 通讯作者: | 卢小鹏 (luxiaopeng2010@163.com) |
| 备注: | -- |
卢小鹏, 李辉, 刘云杰, 梁平, 李坤. 基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法[J]. 液晶与显示, 2014, 29(1): 146. LU Xiao-peng, LI Hui, LIU Yun-Jie, LIANG Ping, LI Kun. Algorithm for fast TFT-LCD Mura defect image segmentation based on Chan-Vese model[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2014, 29(1): 146.
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