中国激光, 2017, 44 (12): 1204006, 网络出版: 2017-12-11   

基于自相干叠栅条纹的光刻机对准技术 下载: 551次

Alignment Technique Using Moire Fringes Based on Self-Coherence in Lithographic Tools
杜聚有 1,2戴凤钊 1,2步扬 1,2王向朝 1,2,*
作者单位
1 中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室, 上海 201800
2 中国科学院大学, 北京 100049
引用该论文

杜聚有, 戴凤钊, 步扬, 王向朝. 基于自相干叠栅条纹的光刻机对准技术[J]. 中国激光, 2017, 44(12): 1204006.

Du Juyou, Dai Fengzhao, Bu Yang, Wang Xiangzhao. Alignment Technique Using Moire Fringes Based on Self-Coherence in Lithographic Tools[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(12): 1204006.

引用列表
1、 光刻对准关键技术的发展与挑战光学学报, 2023, 43 (19): 1900001
2、 光刻套刻误差测量技术激光与光电子学进展, 2022, 59 (9): 0922023
3、 相位光栅非对称性对位置测量精度的影响光学学报, 2021, 41 (19): 1905001
4、 增强型相位光栅衍射效率研究光学学报, 2021, 41 (12): 1205001
6、 大型槽式太阳能反射镜面摄影测量方法激光与光电子学进展, 2018, 55 (5): 051204

杜聚有, 戴凤钊, 步扬, 王向朝. 基于自相干叠栅条纹的光刻机对准技术[J]. 中国激光, 2017, 44(12): 1204006. Du Juyou, Dai Fengzhao, Bu Yang, Wang Xiangzhao. Alignment Technique Using Moire Fringes Based on Self-Coherence in Lithographic Tools[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(12): 1204006.

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